Simulation-Guided 3D Nanomanufacturing via Focused Electron Beam Induced Deposition

Jason D. Fowlkes; Robert Winkler; Brett B. Lewis; Michael Stanford; Harald Plank; Philip Rack

doi:10.1021/acsnano.6b02108

Simulation-Guided 3D Nanomanufacturing via Focused Electron Beam Induced Deposition

Jason D. Fowlkes, Robert Winkler, Brett B. Lewis, Michael Stanford, Harald Plank, Philip Rack

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Seiten (von - bis)	6163-6172
Seitenumfang	9
Fachzeitschrift	ACS Nano
Jahrgang	10
DOIs	https://doi.org/10.1021/acsnano.6b02108
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2016

ASJC Scopus subject areas

Allgemeine Materialwissenschaften

Fields of Expertise

Advanced Materials Science

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Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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10.1021/acsnano.6b02108

SENTINEL - Self-Sensing Nanoprobes für elektrische und thermische in-situ Charakterisierung in Elektronenmikroskopen
Plank, H.
1/10/15 → 30/09/17
Projekt: Forschungsprojekt
Functional Nanofabrication
Dohr, J., Plank, H., Rosker, S., Winkler, R., Stermitz, M., Reisecker, V., Michelitsch, S. G. W., Brugger-Hatzl, M., Schmied, R., Eicher, B., Orthacker, A., Arnold, G., Sattelkow, J., Kolb, F., Ganner, T., Haselmann, U., Seewald, L. & Aschl, T.
1/01/09 → 31/12/23
Projekt: Forschungsprojekt

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TY - JOUR

T1 - Simulation-Guided 3D Nanomanufacturing via Focused Electron Beam Induced Deposition

AU - Fowlkes, Jason D.

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PY - 2016

Y1 - 2016

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M3 - Article

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JO - ACS Nano

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Simulation-Guided 3D Nanomanufacturing via Focused Electron Beam Induced Deposition

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Treatment code (Nähere Zuordnung)

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Projekte

SENTINEL - Self-Sensing Nanoprobes für elektrische und thermische in-situ Charakterisierung in Elektronenmikroskopen

Functional Nanofabrication

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