Structural and morphological characterization of an organic multilayer photodiode with X-ray scattering techniques, electron microscopy and AFM

Alfred Neuhold, Stefanie Fladischer, Stefan Mitsche, Nadezda Matsko, Heinz-Georg Flesch, Armin Moser, Detlef M. Smilgies, Elke Kraker, Werner Grogger, Roland Resel

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
Veranstaltung10th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging - Warwick
Dauer: 20 Sept. 201023 Sept. 2010

Konferenz

Konferenz10th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging
OrtWarwick
Zeitraum20/09/1023/09/10

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Application
  • Experimental

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