Susceptibility scanning as a failure analysis tool for system-level electrostatic discharge (ESD) problems

Giorgi Muchaidze^*, Jayong Koo, Qing Cai, Tun Li, Lijun Han, Andrew Martwick, Kai Wang, Jin Min, James L. Drewniak, David Pommerenke

^*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung