The Role of Chemical Defects for Charge Injection Barriers at Metal / Organic Semiconductor Interfaces

Hermann Edlbauer, Shashank Shekhar Harivyasi, Egbert Zojer, Oliver Hofmann

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungGerman Physical Society - Spring Meeting (SKM) - Berlin, Deutschland
Dauer: 15 März 201520 März 2015

Konferenz

KonferenzGerman Physical Society - Spring Meeting (SKM)
OrtBerlin, Deutschland
Zeitraum15/03/1520/03/15

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Theoretical
  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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