Total Deep Variation for Noisy Exit Wave Reconstruction in Transmission Electron Microscopy

Thomas Pinetz*, Erich Kobler, Christian Doberstein, Benjamin Berkels, Alexander Effland

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

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