Using Device Simulations to Optimize ESD Protection Circuits

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Originalsprache	englisch
Titel	International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Herausgeber (Verlag)	.
Seiten	963-968
ISBN (Print)	0-7803-8443-1
DOIs	https://doi.org/10.1109/ISEMC.2004.1349956
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2004
Veranstaltung	2004 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2004 - Santa Clara, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 9 Aug. 2004 → 13 Aug. 2004

Konferenz	2004 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Land/Gebiet	USA / Vereinigte Staaten
Ort	Santa Clara
Zeitraum	9/08/04 → 13/08/04

Fields of Expertise

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TY - GEN

T1 - Using Device Simulations to Optimize ESD Protection Circuits

AU - Fankhauser, B.

AU - Deutschmann, Bernd

PY - 2004

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U2 - 10.1109/ISEMC.2004.1349956

DO - 10.1109/ISEMC.2004.1349956

M3 - Conference paper

SN - 0-7803-8443-1

SP - 963

EP - 968

BT - International Symposium on Electromagnetic Compatibility

PB - .

T2 - 2004 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility

Y2 - 9 August 2004 through 13 August 2004

ER -