Windows Detection using K-Means in CIE-LAB Color Space

Michal Récky; Franz Leberl

doi:10.1109/ICPR.2010.96

Windows Detection using K-Means in CIE-LAB Color Space

Institut für Maschinelles Sehen und Darstellen (7100)

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Titel	Proceedings for ICPR 2010
Erscheinungsort	Piscataway, NY
Herausgeber (Verlag)	Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten	356-360
ISBN (Print)	978-0-7695-4109-9
DOIs	https://doi.org/10.1109/ICPR.2010.96
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2010
Veranstaltung	20th IAPR International Conference on Pattern Recognition: ICPR 2010 - Istanbul, Türkei Dauer: 23 Aug. 2010 → 26 Aug. 2010

Konferenz

Konferenz	20th IAPR International Conference on Pattern Recognition
Kurztitel	ICPR 2010
Land/Gebiet	Türkei
Ort	Istanbul
Zeitraum	23/08/10 → 26/08/10

Fields of Expertise

Sonstiges

Zugriff auf Dokument

10.1109/ICPR.2010.96

304 - ICPR-2010, Recky.pdfEingereichtes Manuskript, 340 KB

DK Confluence of Vision and Graphics
Zangl, K., Fellner, W., Klopschitz, M., Leberl, F., Pinz, A., Schmalstieg, D., Aurenhammer, F., Bauer, C., Schiffer, T., Demuth, M., Recky, M. & Bischof, H.
1/06/07 → 30/04/11
Projekt: Forschungsprojekt

Dieses zitieren

@inproceedings{82af052b7ef94cb5b90de325e85f65b0,

title = "Windows Detection using K-Means in CIE-LAB Color Space",

author = "Michal R{\'e}cky and Franz Leberl",

year = "2010",

doi = "10.1109/ICPR.2010.96",

language = "English",

isbn = "978-0-7695-4109-9",

pages = "356--360",

booktitle = "Proceedings for ICPR 2010",

publisher = "Institute of Electrical and Electronics Engineers",

address = "United States",

note = "20th International Conference on Pattern Recognition : ICPR 2010, ICPR'10 ; Conference date: 23-08-2010 Through 26-08-2010",

}

TY - GEN

T1 - Windows Detection using K-Means in CIE-LAB Color Space

AU - Récky, Michal

AU - Leberl, Franz

PY - 2010

Y1 - 2010

U2 - 10.1109/ICPR.2010.96

DO - 10.1109/ICPR.2010.96

M3 - Conference paper

SN - 978-0-7695-4109-9

SP - 356

EP - 360

BT - Proceedings for ICPR 2010

PB - Institute of Electrical and Electronics Engineers

CY - Piscataway, NY

T2 - 20th International Conference on Pattern Recognition

Y2 - 23 August 2010 through 26 August 2010

ER -

Windows Detection using K-Means in CIE-LAB Color Space

Konferenz

Fields of Expertise

Zugriff auf Dokument

Projekte

DK Confluence of Vision and Graphics

Dieses zitieren