TY - JOUR
T1 - Vergleichende EMV-Untersuchungen auf Geräte- und IC-Ebene
AU - Lamedschwandner, Kurt
AU - Deutschmann, Bernd
AU - Winkler, Gunter
AU - Ostermann, Timm
PY - 2006
Y1 - 2006
N2 - Der Einsatz integrierter Schaltungen stellt ein potentielles EMV-Problem in der Geräteentwicklung dar. Unzureichende EMV-Eigenschaften von integrierten Schaltungen (ICs) können dazu führen, dass Geräte, in welche diese ICs eingebaut werden, die für die CE-Kennzeichnung geforderten EMV-Geräteanforderungen nicht erfüllen. Daher stellen Geräteentwickler an IC-Hersteller immer häufiger die Forderung nach ICs mit entsprechend "gutem" EMV-Verhalten. Die Messung und Bewertung der Störemission und Störfestigkeit auf IC- und auf Geräte-Ebene erfolgt jedoch nach unterschiedlichen Methoden. Die Frage, inwieweit aus Kenntnissen des EMV-Verhaltens von ICs auf das EMV-Verhalten eines fertigen Gerätes geschlossen werden kann, ist nicht einfach zu beantworten. Dieser Beitrag soll ein Mosaiksteinchen in Richtung der Beseitigung dieses Missing Links sein.
AB - Der Einsatz integrierter Schaltungen stellt ein potentielles EMV-Problem in der Geräteentwicklung dar. Unzureichende EMV-Eigenschaften von integrierten Schaltungen (ICs) können dazu führen, dass Geräte, in welche diese ICs eingebaut werden, die für die CE-Kennzeichnung geforderten EMV-Geräteanforderungen nicht erfüllen. Daher stellen Geräteentwickler an IC-Hersteller immer häufiger die Forderung nach ICs mit entsprechend "gutem" EMV-Verhalten. Die Messung und Bewertung der Störemission und Störfestigkeit auf IC- und auf Geräte-Ebene erfolgt jedoch nach unterschiedlichen Methoden. Die Frage, inwieweit aus Kenntnissen des EMV-Verhaltens von ICs auf das EMV-Verhalten eines fertigen Gerätes geschlossen werden kann, ist nicht einfach zu beantworten. Dieser Beitrag soll ein Mosaiksteinchen in Richtung der Beseitigung dieses Missing Links sein.
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-33645281695&partnerID=MN8TOARS
U2 - 10.1007/s00502-006-0306
DO - 10.1007/s00502-006-0306
M3 - Artikel
SN - 1613-7620
VL - 123
SP - 9
EP - 14
JO - Elektrotechnik und Informationstechnik
JF - Elektrotechnik und Informationstechnik
IS - 1-2
ER -