Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde

Alexander Fian; Manfred Leisch

Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde

Institute of Solid State Physics (5130)

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference paper

Original language	German
Title of host publication	Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Place of Publication	Weinheim
Publisher	Physik-Verlag GmbH
Pages	330-330
Volume	1/2001
Publication status	Published - 2001
Event	Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG: Arbeitskreis Festkörperphysik - Hamburg, Germany Duration: 26 Mar 2001 → 30 Mar 2001

Publication series

Name	Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Publisher	Physik-Verlag GmbH

Conference

Conference	Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG
Country/Territory	Germany
City	Hamburg
Period	26/03/01 → 30/03/01

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Cite this

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TY - GEN

T1 - Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde

AU - Fian, Alexander

AU - Leisch, Manfred

N1 - ISSN 0420-0195

PY - 2001

Y1 - 2001

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

VL - 1/2001

T3 - Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft

SP - 330

EP - 330

BT - Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft

PB - Physik-Verlag GmbH

CY - Weinheim

T2 - Frühjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft 2001

Y2 - 26 March 2001 through 30 March 2001

ER -