Activities per year
Abstract
Transiente Störungen stellen eine zunehmende Herausforderung für die gesamte Elektronikindustrie dar. Ein wesentlicher Faktor für die Robustheit ist die Anstiegszeit der Störung. Ausgewählte Testpulse werden durch einen neuen Fitting Prozess an Transmission Line Pulses angenähert. Die so erhaltenen Pulse werden miteinander bezüglich ihres Spitzenstromes, Pulsweite und Anstiegszeit verglichen. Testpulse für Systeme verfügen bezüglich Testpulsen für Komponenten über mehr Energie, ähnliche Pulsweiten und vergleichbare Anstiegszeiten. In diesem Beitrag wird ein Vorschlag gebracht wie die Anstiegszeit in zukünftigen Komponenten-Charakteristiken eingebracht werden kann.
| Original language | German |
|---|---|
| Title of host publication | Tagungsband 15. ESD-Forum 2017 |
| Place of Publication | München |
| Publisher | ESD Forum e.V. |
| Pages | 69-78 |
| Number of pages | 10 |
| ISBN (Print) | 978-3-9813357-3-5 |
| Publication status | Published - Oct 2017 |
| Event | 15. ESD-Forum - München, Germany Duration: 23 Oct 2017 → 25 Oct 2017 |
Conference
| Conference | 15. ESD-Forum |
|---|---|
| Country/Territory | Germany |
| City | München |
| Period | 23/10/17 → 25/10/17 |
Activities
-
Vergleich transienter Testpulse im Bezug zu Transmission Line Pulsing
Patrick Schrey (Speaker)
1 Oct 2017Activity: Talk or presentation › Talk at conference or symposium › Science to science
-
15. ESD-Forum
Patrick Schrey (Participant)
23 Oct 2017 → 25 Oct 2017Activity: Participation in or organisation of › Conference or symposium (Participation in/Organisation of)