7th Autumn School on X-ray scattering from surfaces and thin layers

  • Heinz-Georg Flesch (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science

Beschreibung

Talk: X-ray Reflectivity and Ellipsometry - a Combined Approach for Polymer Thin Film Characterization
Zeitraum4 Okt. 2007 → 6 Okt. 2007
Ereignistitel7th Autumn School on X-ray scattering from surfaces and thin layers
VeranstaltungstypKonferenz
OrtSmolenice, SlowakeiAuf Karte anzeigen