Best Image Award

Auszeichnung: Preise / Medaillen / Ehrungen

BekanntheitsgradInternational

Verliehen bei Veranstaltung

Ereignistitel6th FEBIP Workshop of the Focused-Electron-Beam-Induced-Processing
OrtWien, ÖsterreichAuf Karte anzeigen
Zeitraum4 Juli 2016 → 8 Juli 2016

ÖFOS 2012 (6-stellig)

  • 103042 Elektronenmikroskopie

ASJC Scopus Sachgebiete

  • Werkstoffwissenschaften (insg.)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)