Projektdetails
Beschreibung
Ziel dieses Projektes ist die Verbesserung der Nahfeldmesstechnik und die Verarbeitung der Daten zur Visualisierung abstrahlender, oder koppelnder Strukturen auf ICs, Platinen oder Modulen.
| Status | Abgeschlossen |
|---|---|
| Tatsächlicher Beginn/ -es Ende | 21/02/20 → 20/02/21 |