Schwingungsspektroskopische Analyse von dünnen organischen Schichten

  • Brandl, Christian (Teilnehmer (Co-Investigator))
  • Wilhelm, Peter (Projektleiter (Principal Investigator))

Projekt: Forschungsprojekt

Projektdetails

Beschreibung

Bei sehr dünnen organischen Schichten (Dicke wenige nm) auf einem reflektierenden Substrat (Metall) kann durch streifenden Einfall des IR-Lichtes unter Erhalt der Polarisationsrichtung die Wechselwirkung zwischen Licht und Materie verstärkt werden, wodurch sich eine wesentlich erhöhte Nachweisempfindlichkeit ergibt.
StatusAbgeschlossen
Tatsächlicher Beginn/ -es Ende1/01/03 → 31/12/23

Fingerprint

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  • 3 Poster
  • 2 Beitrag in einem Konferenzband
  • 1 (Altdaten) Vortrag oder Präsentation
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