A Transient Event Sensor for Efficient System-Level ESD Testing

Abhishek Patnaik*, Shubhankar Marathe, Shun Liu, David Pommerenke, Daryl G. Beetner

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

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