| Originalsprache | englisch |
|---|---|
| Titel | Scanning 2003, San Diego; Scanning 25, |
| Herausgeber (Verlag) | . |
| Seiten | 62-62 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2003 |
Automated particle size measurement of submicron particles in scanning electron microscopy
Stefan Mitsche, Peter Pölt, Mario Schmied
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