Correlative in situ AFM & SEM & EDX analysis of nanostructuredmaterials

M. Winhold, M. Leitner, A. Lieb, P. Frederix, F. Hofbauer, T. Strunz, G. Fantner, Jürgen Sattelkow, C. Schwalb, Harald Plank

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Originalspracheenglisch
TitelMC2017
SeitenIM1.P046
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
VeranstaltungMicroscopy Conference 2017: MC17 - Lausanne, Schweiz
Dauer: 21 Aug. 2017 → 25 Aug. 2017
http://www.mc2017.ch/

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference 2017
KurztitelMC 2017
Land/GebietSchweiz
OrtLausanne
Zeitraum21/08/17 → 25/08/17
Internetadresse

ASJC Scopus subject areas

  • Allgemeine Materialwissenschaften

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  • Advanced Materials Science

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