Correlative In-Situ Analysis by Combination of AFM, SEM, and FIB

C. Schwalb, S. Hummel, P. Frank, Jürgen Sattelkow, Robert Winkler, G.E. Fantner, Harald Plank

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelWorkshop Handbook:Program & Abstracts
Seiten28
PublikationsstatusVeröffentlicht - Apr. 2019
Veranstaltung9th ASEM Workshop for Advanced Electron Microscopy - TU Graz, Graz, Österreich
Dauer: 25 Apr. 201926 Apr. 2019

Workshop

Workshop9th ASEM Workshop for Advanced Electron Microscopy
KurztitelASEM Workshop 2019
Land/GebietÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum25/04/1926/04/19

ASJC Scopus subject areas

  • Allgemeine Materialwissenschaften

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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