Holistic Analysis for Electrical Capacitance Tomography Front-End Electronics

Titel in Übersetzung: Holistic analysis for electrical capacitance tomography front-end electronics

Matthias Flatscher*, Markus Neumayer, Thomas Bretterklieber

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

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