Internal stress and defect-related free volume in submicrocrystalline Ni studied by neutron diffraction and difference dilatometry

Jaromir Kotzurek, M. Hofmann, S. Simic, Peter Pölt, A. Hohenwarter, R. Pippan, Wolfgang Sprengel, Roland Würschum

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Internal stress and defect-related free volume in submicrocrystalline Ni studied by neutron diffraction and difference dilatometry“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Material Science