Spatial localization of xylan on cellulsoe model films by AFM using functionalized tips

Caterina Czibula, Christian Ganser, Frank Albrecht Miletzky, Stefan Spirk, Wolfgang Bauer, Robert Schennach, Christian Teichert

Publikation: Konferenzbeitrag › (Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 8 Sept. 2014
VeranstaltungProgress in Paper Physics Seminar - Raleigh, North Carolina, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 8 Sept. 2014 → 11 Sept. 2014

Konferenz

KonferenzProgress in Paper Physics Seminar
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtRaleigh, North Carolina
Zeitraum8/09/14 → 11/09/14

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • 1 Abgeschlossen

  • CD-Labor für Oberflächenphysikalische und chemische Grundlagen der Papierfestigkeit

    Hirn, U. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Bauer, W. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Suppan, L. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Miletzky, F. A. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Diebald, S. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Fischer, W. J. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Gilli, E. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Schennach, E. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Lahti, J. A. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Weber, F. (Teilnehmer (Co-Investigator)) & Schennach, R. (Projektleiter (Principal Investigator))

    1/03/07 → 28/02/14

    Projekt: Forschungsprojekt

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