Visual Feature Space Analysis for Unsupervised Effectiveness Estimation and Feature Engineering

Tobias Schreck, Daniel A. Keim, Christian Panse

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelConference proceedings / ICME 2006
ErscheinungsortPiscataway, NJ
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten925-928
ISBN (Print)1-42440-367-7
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
Veranstaltung2006 IEEE International Conference on Multimedia and Expo: ICME 2006 - Toronto, Kanada
Dauer: 9 Juli 200612 Juli 2006

Konferenz

Konferenz2006 IEEE International Conference on Multimedia and Expo
Land/GebietKanada
OrtToronto
Zeitraum9/07/0612/07/06

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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