EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

Bernd Deutschmann, Gunter Winkler, Roland Jungreithmair

Research output: Contribution to journalArticle

Original languageGerman
Pages (from-to)35-37
JournalTest-Kompendium
Volume2003
Publication statusPublished - 2003

Fields of Expertise

  • Sonstiges
  • Electromagnetic Compatibility

    Deutschmann, B. & Winkler, G.

    1/01/95 → …

    Project: Research area

Cite this