EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

Bernd Deutschmann, Gunter Winkler, Roland Jungreithmair

Research output: Contribution to journal › Article

Original languageGerman
Pages (from-to)35-37
JournalTest-Kompendium
Volume2003
Publication statusPublished - 2003

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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