14th European Microscopy Congress 2008

Schröttner, H. (Teilnehmer/-in)

Aktivität: Teilnahme an / Organisation von › Konferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)

Beschreibung

14th European Microscopy Congress 2008

Zeitraum	31 Aug. 2008 → 5 Sept. 2008
Veranstaltungstyp	Konferenz
Ort	Aacheb, DeutschlandAuf Karte anzeigen
Bekanntheitsgrad	International

Fields of Expertise

Advanced Materials Science

Verbundene Inhalte

Veröffentlichungen
Experimental determination of the total scattering cross section of water vapour and of the effective beam gas path length in a low vacuum scanning electron microscope
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung
DualBeam FIB application of 3D EDXS for superalloy δ-phase characterization
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung
Experimental determination of the total scattering cross section of water vapour and of the effective beam gas path length in a low vacuum scanning electron microscope.
Publikation: Konferenzbeitrag › Poster