Publikationen pro Jahr
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2022
HR-(S)TEM Sample Preparation of Semiconducting Materials
Alatrash, A., Fisslthaler, E., Dienstleder, M. & Grogger, W., 21 Apr. 2022.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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In situ structural analysis of AlSi10Mg for additive manufacturing – from powder to thermally treated
Krisper, R., Albu, M., Lammer, J., Dienstleder, M., Fisslthaler, E., Kothleitner, G. & Grogger, W., 21 Apr. 2022.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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2020
EDX quantification in the TEM: How to measure ζ-factors without knowing the sample thickness
Rauch, N., Lammer, J., Rauch, S., Dienstleder, M. & Grogger, W., 2020.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Begutachtung
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2019
Multiscale and Correlative Analytical Electron Microscopy of Extraterrestial Minerals
Albu, M., Zankel, A., Fitzek, H. M., Dienstleder, M., Simic, S., Hofer, F. & Kothleitner, G., 2019.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Begutachtung
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2017
In situ heating studies of diffusion barrier layers for semiconductor devices
Knez, D., Dienstleder, M., Grogger, W., Hofer, F. & Fisslthaler, E., 2017.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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Low energy argon ion sample preparation for HRSTEM analysis
Dienstleder, M., Fisslthaler, E., Gspan, C. & Kothleitner, G., 2017.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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2015
High spatial and energy resolution x-ray analysis of thin specimens by scanning electron microscopy
Mitsche, S., Haberfehlner, G., Dienstleder, M. & Pölt, P., 2015.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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2010
Raman microprobe imaging of submicron polymer structures and interdisciplinary characterization of beam damage
Plank, H., Chernev, B. S., Sezen, M., Dienstleder, M., Haber, T., Wilhelm, P. & Hofer, F., 2010.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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2009
The Effect of Process Parameters on the Surface Morphology of Thin FIB Lamellas
Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2009.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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2008
The Influence of Beam Defocus on Volume Growth Rates for Electron Beam Induced Platinum Deposition
Plank, H., Gspan, C., Dienstleder, M., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2008.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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2007
in-situ TEM Probenpräparation von verspannten Proben mittels Sandwich Technik
Rogers, M. & Dienstleder, M., 2007.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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2005
Optimization of the FIB milling conditions for RTP-processed Niobium and Tantalumnitride thin films on silicon substrates
Dienstleder, M., Rogers, M., Kothleitner, G., Hofer, F. & Kolbesen, B., 2005.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster