Projektdetails
Beschreibung
Microanalysis with high detection sensitivity by means of wave-length dispersive x-ray spectrometry (WDXS) in a scanning electron microscope (SEM) using the STEM mode. The methodical developments will be applied to characterise materials and nanostructured devices.
| Status | Abgeschlossen |
|---|---|
| Tatsächlicher Beginn/ -es Ende | 1/07/08 → 31/12/10 |
Fingerprint
Erkunden Sie die Forschungsthemen, die von diesem Projekt angesprochen werden. Diese Bezeichnungen werden den ihnen zugrunde liegenden Bewilligungen/Fördermitteln entsprechend generiert. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.