A Smart Card Test Environment Using Multi-Level Fault Injection in SystemC

Klaus Rothbart, Ulrich Neffe, Christian Steger, Reinhold Weiß, Edgar Rieger, Andreas Mühlberger

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Titel	Digest of Papers / 6th IEEE Latin-American Test Workshop
Herausgeber (Verlag)	.
Seiten	103-108
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2005
Veranstaltung	IEEE Latin-American Test Workshop - Salvador, Brasilien Dauer: 30 März 2005 → 2 Apr. 2005

Konferenz	IEEE Latin-American Test Workshop
Land/Gebiet	Brasilien
Ort	Salvador
Zeitraum	30/03/05 → 2/04/05

Andere Dateien und Links

Hardware/Software-Codesign
Steger, C., Seifert, C., Stelzer, P., Fiala, G. & Basic, F.
1/01/95 → …
Projekt: Arbeitsgebiet

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TY - GEN

T1 - A Smart Card Test Environment Using Multi-Level Fault Injection in SystemC

AU - Rothbart, Klaus

AU - Neffe, Ulrich

AU - Steger, Christian

AU - Weiß, Reinhold

AU - Rieger, Edgar

AU - Mühlberger, Andreas

PY - 2005

Y1 - 2005

UR - http://www.latw.net

M3 - Conference paper

SP - 103

EP - 108

BT - Digest of Papers / 6th IEEE Latin-American Test Workshop

PB - .

T2 - IEEE Latin-American Test Workshop

Y2 - 30 March 2005 through 2 April 2005

ER -