Alignability equivalence of synchronous sequential circuits

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Originalsprache	englisch
Titel	Seventh IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop 2002, Cannes, France
Seiten	111-114
DOIs	https://doi.org/10.1109/HLDVT.2002.1224438
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2002

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author = "Amnon Rosenmann and Ziyad Hanna",

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