Angle-dependent spectral reflectance material dataset based on 945 nm time-of-flight camera measurements

David Ritter*, Relindis Rott, Birgit Schlager, Stefan Muckenhuber, Simon Genser, Martin Kirchengast, Marcus Hennecke

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

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