Characterization of highly versatile micrometer sized sensor particles using different microscopical techniques

Klaus Koren; Günter Mistlberger; Armin Zankel; Peter Pölt; Ingo Klimant

doi:10.3217/978-3-85125-062-6-448

Characterization of highly versatile micrometer sized sensor particles using different microscopical techniques

Klaus Koren, Günter Mistlberger, Armin Zankel, Peter Pölt, Ingo Klimant

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Titel	Materials Science
Erscheinungsort	Wien
Herausgeber (Verlag)	Facultas
Seiten	151-152
ISBN (Print)	978-3-85125-062-6
DOIs	https://doi.org/10.3217/978-3-85125-062-6-448
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2009
Veranstaltung	Multinational Congress on Microscopy - Graz, Österreich Dauer: 30 Aug. 2009 → 4 Sept. 2009

Konferenz

Konferenz	Multinational Congress on Microscopy
Land/Gebiet	Österreich
Ort	Graz
Zeitraum	30/08/09 → 4/09/09

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Zugriff auf Dokument

10.3217/978-3-85125-062-6-448

Microanalysis and in-situ studies using scanning electron microscopy
1/01/01 → 14/05/20
Projekt: Arbeitsgebiet

Dieses zitieren

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note = "Multinational Congress on Microscopy ; Conference date: 30-08-2009 Through 04-09-2009",

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TY - GEN

T1 - Characterization of highly versatile micrometer sized sensor particles using different microscopical techniques

AU - Koren, Klaus

AU - Mistlberger, Günter

AU - Zankel, Armin

AU - Pölt, Peter

AU - Klimant, Ingo

PY - 2009

Y1 - 2009

U2 - 10.3217/978-3-85125-062-6-448

DO - 10.3217/978-3-85125-062-6-448

M3 - Conference paper

SN - 978-3-85125-062-6

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EP - 152

BT - Materials Science

PB - Facultas

CY - Wien

T2 - Multinational Congress on Microscopy

Y2 - 30 August 2009 through 4 September 2009

ER -

Characterization of highly versatile micrometer sized sensor particles using different microscopical techniques

Konferenz

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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Projekte

Microanalysis and in-situ studies using scanning electron microscopy

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