Vergleichende EMV-Untersuchungen auf Geräte- und IC-Ebene

Der Einsatz integrierter Schaltungen stellt ein potentielles EMV-Problem in der Geräteentwicklung dar. Unzureichende EMV-Eigenschaften von integrierten Schaltungen (ICs) können dazu führen, dass Geräte, in welche diese ICs eingebaut werden, die für die CE-Kennzeichnung geforderten EMV-Geräteanforderungen nicht erfüllen. Daher stellen Geräteentwickler an IC-Hersteller immer häufiger die Forderung nach ICs mit entsprechend "gutem" EMV-Verhalten. Die Messung und Bewertung der Störemission und Störfestigkeit auf IC- und auf Geräte-Ebene erfolgt jedoch nach unterschiedlichen Methoden. Die Frage, inwieweit aus Kenntnissen des EMV-Verhaltens von ICs auf das EMV-Verhalten eines fertigen Gerätes geschlossen werden kann, ist nicht einfach zu beantworten. Dieser Beitrag soll ein Mosaiksteinchen in Richtung der Beseitigung dieses Missing Links sein.