Comparative Study of LNO, LSCO and LSMO as Electrode Layers for Microelectronic Capacitors by Dynamic SIMS

Christoph Pollak, Klaus Reichmann, Herbert Hutter

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)119-124
FachzeitschriftSurface and Coatings Technology
Jahrgang150
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2002

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