EBSD - Contamination, Calibration and Specimen Damage

Peter Pölt, Stefan Mitsche

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

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Abgeschlossen
Kristallographische Strukturbestimmung im SEM (OIM + Phasenanalyse)
Schmied, M. M. & Pölt, P.
1/09/00 → 31/01/03
Projekt: Arbeitsgebiet
Rasterelektronenmikroskopie, Röntgenspektrometrie und Kristallstrukturanalyse
Schmied, M. M., Zankel, A., Wagner, J., Elis, C., Schröttner, H., Bahr, P. & Reichmann, A.
1/01/95 → 31/01/03
Projekt: Arbeitsgebiet