Elemental mapping of semiconductor devices using energyfiltering transmission electron microscopy

Werner Grogger, Ferdinand Hofer, Peter Warbichler, O. Leitner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelMicroscopy of semiconducting materials 1999
ErscheinungsortBristol
Herausgeber (Verlag)Institute of Physics Publ.
Seiten35-38
Band164
ISBN (Print)0-7503-0650-5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1999
VeranstaltungConference on Microscopy of Semiconducting Materials - Oxford, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 22 März 199925 März 1999

Publikationsreihe

NameInstitute of Physics conference series
Herausgeber (Verlag)Institute of Physics Publ.

Konferenz

KonferenzConference on Microscopy of Semiconducting Materials
Land/GebietGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtOxford
Zeitraum22/03/9925/03/99

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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