FDive: Learning Relevance Models using Pattern-based Similarity Measures

F. Dennig, T. Polk, Z. Lin, T. Schreck, H.-P. Pfister, M. Behrisch

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

    Originalspracheenglisch
    TitelProc. IEEE VAST
    Seitenumfang12
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019

    Fields of Expertise

    • Information, Communication & Computing

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