Focused electron beam induced deposition as a tool to create electron vortices

A. Beche; Robert Winkler; Harald Plank; Ferdinand Hofer; J. Verbeeck

doi:http://dx.doi.org/10.1016/j.micron.2015.07.011

Focused electron beam induced deposition as a tool to create electron vortices

A. Beche, Robert Winkler, Harald Plank, Ferdinand Hofer, J. Verbeeck

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Seiten (von - bis)	34-38
Fachzeitschrift	Micron
Jahrgang	80
DOIs	https://doi.org/10.1016/j.micron.2015.07.011
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2016

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Advanced Materials Science

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http://dx.doi.org/10.1016/j.micron.2015.07.011

SENTINEL - Self-Sensing Nanoprobes für elektrische und thermische in-situ Charakterisierung in Elektronenmikroskopen
Plank, H.
1/10/15 → 30/09/17
Projekt: Forschungsprojekt
Functional Nanofabrication
Dohr, J., Plank, H., Rosker, S., Winkler, R., Stermitz, M., Reisecker, V., Michelitsch, S. G. W., Brugger-Hatzl, M., Schmied, R., Eicher, B., Orthacker, A., Arnold, G., Sattelkow, J., Kolb, F., Ganner, T., Haselmann, U., Seewald, L. & Aschl, T.
1/01/09 → 31/12/23
Projekt: Forschungsprojekt

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TY - JOUR

T1 - Focused electron beam induced deposition as a tool to create electron vortices

AU - Beche, A.

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AU - Verbeeck, J.

PY - 2016

Y1 - 2016

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DO - http://dx.doi.org/10.1016/j.micron.2015.07.011

M3 - Article

SN - 0968-4328

VL - 80

SP - 34

EP - 38

JO - Micron

JF - Micron

ER -

Focused electron beam induced deposition as a tool to create electron vortices

Fields of Expertise

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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Projekte

SENTINEL - Self-Sensing Nanoprobes für elektrische und thermische in-situ Charakterisierung in Elektronenmikroskopen

Functional Nanofabrication

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