Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene

Timm Ostermann, Kurt Lamedschwandner, Bernd Deutschmann, Gunter Winkler

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	deutsch
Titel	12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004
Erscheinungsort	Berlin Offenbach
Herausgeber (Verlag)	VDE Verlag GmbH
Seiten	421-427
ISBN (Print)	3-8007-2810-9
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2004

Fields of Expertise

Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene. / Ostermann, Timm; Lamedschwandner, Kurt; Deutschmann, Bernd et al.
12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004. Berlin Offenbach: VDE Verlag GmbH, 2004. S. 421-427.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

@inproceedings{d4a39e10a1c7417dbaf27a7f709f3e03,

title = "Gegen{\"u}berstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Ger{\"a}teebene",

author = "Timm Ostermann and Kurt Lamedschwandner and Bernd Deutschmann and Gunter Winkler",

year = "2004",

language = "deutsch",

isbn = "3-8007-2810-9",

pages = "421--427",

booktitle = "12. Internationale Fachmesse und Kongress f{\"u}r Elektromagnetische Vertr{\"a}glichkeit/EMV 2004",

publisher = "VDE Verlag GmbH",

address = "Deutschland",

}

TY - GEN

T1 - Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene

AU - Ostermann, Timm

AU - Lamedschwandner, Kurt

AU - Deutschmann, Bernd

AU - Winkler, Gunter

PY - 2004

Y1 - 2004

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

SN - 3-8007-2810-9

SP - 421

EP - 427

BT - 12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004

PB - VDE Verlag GmbH

CY - Berlin Offenbach

ER -