Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene

Timm Ostermann, Kurt Lamedschwandner, Bernd Deutschmann, Gunter Winkler

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference paper › peer-review

Original language	German
Title of host publication	12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004
Place of Publication	Berlin Offenbach
Publisher	VDE Verlag GmbH
Pages	421-427
ISBN (Print)	3-8007-2810-9
Publication status	Published - 2004

Fields of Expertise

Electromagnetic Compatibility
Deutschmann, B. & Winkler, G.
1/01/95 → …
Project: Research area

Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene. / Ostermann, Timm; Lamedschwandner, Kurt; Deutschmann, Bernd et al.
12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004. Berlin Offenbach: VDE Verlag GmbH, 2004. p. 421-427.

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference paper › peer-review

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TY - GEN

T1 - Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene

AU - Ostermann, Timm

AU - Lamedschwandner, Kurt

AU - Deutschmann, Bernd

AU - Winkler, Gunter

PY - 2004

Y1 - 2004

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

SN - 3-8007-2810-9

SP - 421

EP - 427

BT - 12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004

PB - VDE Verlag GmbH

CY - Berlin Offenbach

ER -