High energy resolution EELS using a monochromized 200 kV TEM: Comparative investigation of titanium oxides

Christoph Mitterbauer, Gerald Kothleitner, Ferdinand Hofer, Peter Tiemeijer, Bert Freitag, Henny W. Zandenbergen

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Seiten (von - bis)	86-87
Fachzeitschrift	Microscopy and Microanalysis
Jahrgang	9
Ausgabenummer	Suppl. 3
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2003

Treatment code (Nähere Zuordnung)

EELS Nahkantenfeinstrukturen
Kothleitner, G., Grogger, W., Hofer, F., Wewerka, K., Letofsky-Papst, I. & Mitterbauer, C.
1/02/00 → 31/12/05
Projekt: Arbeitsgebiet
Analytische Transmissionselektronenmikroskopie
Schaffer, B., Hofer, F., Rogers, M., Mitterbauer, C. & Wewerka, K.
1/01/95 → 31/01/03
Projekt: Arbeitsgebiet

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TY - JOUR

T1 - High energy resolution EELS using a monochromized 200 kV TEM: Comparative investigation of titanium oxides

AU - Mitterbauer, Christoph

AU - Kothleitner, Gerald

AU - Hofer, Ferdinand

AU - Tiemeijer, Peter

AU - Freitag, Bert

AU - Zandenbergen, Henny W.

PY - 2003

Y1 - 2003

M3 - Article

SN - 1435-8115

VL - 9

SP - 86

EP - 87

JO - Microscopy and Microanalysis

JF - Microscopy and Microanalysis

IS - Suppl. 3

ER -