Model-Based Mutation Testing of an Industrial Measurement Device

Bernhard Aichernig, Jakob Auer, Elisabeth Jöbstl, Robert Korosec, Willibald Krenn, Rupert Schlick, Birgit Vera Schmidt

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

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