Dielectric Properties of Plasma Oxides for Microfabricated Ion Traps

Alexander Zesar, Helmut Schönherr, Michael Sieberer, David Seebacher, Clemens Rössler, Klemens Schüppert, Elmar Aschauer, Peter Hadley

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Fingerprint

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